X射线荧光镀层测厚仪/rohs光谱仪

X射线荧光镀层测厚仪/rohs光谱仪用于电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业Ux-720 精密镀层分析仪X射线荧光光谱仪专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；华唯VisualFp基本参数法分析软件，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

X射线荧光镀层测厚仪/rohs光谱仪主要技术参数

1.分析元素范围：S-U中的元素

2、检测成分范围：1ppm-99.99%

3、低检测厚度：0.001um

4、检测厚度上限：30 - 50um（视材料而定）

5、检测镀层层数：1-5层（视材料而定）

6、测量时间 ：30-150s ( 系统自动调整 )

7、分辨率：145±5eV

8、准直器：Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自动切换

9、滤光片：5种滤光片自动切换

10、CCD观察：260万像素高清CCD

11、样品微动范围：XY15mm

12、仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

13、样品腔尺寸：300*360*100mm；

14、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz

15、额定功率：350W

16、重量：约45Kg

17、工作环境温度：温度15—30℃

18、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

19、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%

标准配件：

样品固定支架1支

窗口支撑薄膜：100张

保险管：3支

计算机主机：品牌+双核

显示屏：19寸液晶

打印机：喷墨打印机

可选配件：

可升级为SDD探测器